El microscopio de barrido marca ZEISS (DSM-940A) permite realizar observaciones de la superficie de materiales orgánicos e inorgánicos, obteniendo imágenes con detalles a nivel topográfico y morfológico de las muestras en estudio. Este equipo opera de manera analógica, por lo que su uso en la docencia resulta de interés.

El microscopio electrónico de barrido marca JEOL (JSM-5900LV) permite realizar estudios a partir del análisis morfológico superficial, mediante la obtención de Imágenes de Electrones Secundarios (SEI, por sus siglas en inglés Secondary Electron Imaging), así como, la realización de análisis mediante Imágenes de Electrones Retrodispersados (BSE, por sus siglas en inglés Backscattered Electron Image) y también es una herramienta auxiliar para conocer la composición química elemental de las muestras en estudio por espectroscopia de Energía Dispersiva de Rayos X (EDS, por sus siglas en inglés Energy Dispersive Spectroscopy).